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膜厚仪对真空镀膜机的膜厚测量
点击次数:378 发布时间:2018-03-26
   膜厚仪采用了磁性测厚法,能快速,无损伤,精确地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的测量.可广泛用于制造业,金属加工业,化工业,商检等检测领域.特别适用于工程现场测量。
  在生产过程中,选择哪种膜厚仪首先取决于你所测产品的结构.如果只是简单的涂层,铜箔使用普通的膜厚仪就可以解决了.如:铜箔测厚仪,涂层测厚仪;
  如果测电镀层的厚度,而且具有几层镀层,那么就要使用x射线膜厚仪.单镀层厚度大于0.5um的还可以采用金相法观察。
  在使用真空镀膜机镀膜之后,为了需要可能会要测量膜层的厚度,测量膜层的厚度用什么方法呢?
  zui直接的镀膜控制方法是石英晶体微量平衡法(QCM),这种仪器可以直接驱动蒸发源,通过PID控制循环驱动挡板,保持蒸发速率。
  只要将膜厚仪与系统控制软件相连接,它就可以控制整个的镀膜过程。但是(QCM)的精确度是有限的,部分原因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。
  此外虽然QCM在较低温度下非常稳定,但温度较高时,它会变得对温度非常敏感。在长时间的加热过程中,很难阻止传感器跌入这个敏感区域,从而对膜层造成重大误差。
  光学监控是高精密镀膜的的首选监控方式,这是因为它可以更精确地控制膜层厚度。精确度的改进源于很多因素,但zui根本的原因是对光学厚度的监控。
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