膜厚测试仪美国博曼微型XRF镀层测厚仪微型XRF采用多毛细管光学机构，将X射线束聚焦到7.5μmFWHM，是目前世界上使用XRF技术进行镀层厚度分析的最小光斑尺寸。150倍放大相机用于观察样品上的细微特征;同时配有低倍数相机，用于观察样品的宏观成像。博曼的双摄像头系统可让操作人员看到整个样品，点击图像，通过高倍放大相机进行放大，实现测量点的精确定位和测量。

美国博曼（Bowman）BA100系列MFF型镀层测厚仪利用X射线照射产品样品，样品的不同元素发出不同能量大小的二次X射线荧光，仪器分析荧光的波长和能量大小从而无损计算出镀层的厚度。

美国博曼BA100毛细管（100-O-OPT80）镀层测厚仪美国原装进口，由美国Kalpha公司研制，于2016年发布，采用zui前沿的微小斑点多导毛细管技术，配合大窗口的SDD探测器，实现对极小斑点的测量，高能量的X射线光束，可实现快速、zui高精度的测量。同样的传导距离，可产生比准直器类测厚仪强百倍的信号强度，其测量精度趋于完美，是一种完全颠覆准直器类测厚仪的无损镀层测厚仪。

BA100毛细管X射线测厚仪专业生产厂家优秀的测试性能、突出的微区测量能力，BowmanBA100Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

美国博曼BA100毛细管光学X射线测厚仪批发价格机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应zui严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

博曼XRF荧光镀层测厚仪BA100-G-S是原CMI900升级产品，是一款全新的智能化机型；可提供高精度、快速简便的测量和分析镀层厚度。该款仪器X射线系统可提供对13元吕元素到92号铀元素进行高精度测量分析。